高壓耐壓測試又稱作高壓測試或介電強(qiáng)度測試，可能是大家熟悉和在產(chǎn)品流程安全測試中用的多的。耐壓測試是一種無破壞性的測試，它用來檢測經(jīng)常發(fā)生的瞬態(tài)高壓下產(chǎn)品的絕緣能力是否合格。它在一定時間內(nèi)施加高壓到被測試設(shè)備以確保設(shè)備的絕緣性能足夠強(qiáng)。

測試電壓，大部分的安全標(biāo)準(zhǔn)允許在耐壓測試中使用交流或直流電壓。若使用交流測試電壓，當(dāng)達(dá)到電壓峰值時，無論是正極性還是負(fù)極性峰值時，待測絕緣體都承受大壓力。因此，如果決定選擇使用直流電壓測試，就必須確保直流測試電壓是交流測試電壓的 倍，這樣直流電壓才可以與交流電壓峰值等值。例如： 1500V 交流電壓，對于直流電壓若要產(chǎn)生相同數(shù)量的電應(yīng)力必須為 1500 × 1.414 即 2121V 直流電壓。

直流耐壓測試的不足在于它只能在一個方向施加測試電壓，不能像交流測試那樣可以在兩個極性上施加電應(yīng)力，而多數(shù)電子產(chǎn)品正是在交流電源下進(jìn)行工作的。另外，由于直流測試電壓較難產(chǎn)生，因此直流測試比交流測試成本要高。

使用直流測試電壓的其中一個好處在于在直流模式下，流過耐壓測試儀報(bào)警電流測量裝置的是真正的流過樣品的電流。采用直流測試的另一個好處在于可以逐漸的施 加電壓。在電壓增加時通過監(jiān)視流過樣品的電流，操作者可以在擊穿發(fā)生前察覺到。需要注意的是當(dāng)使用直流耐壓測試儀時，由于電路中的電容充電，必須在測試完 成后對樣品進(jìn)行放電。事實(shí)上，無論是測試電壓是多少、其產(chǎn)品特點(diǎn)如何，在操作產(chǎn)品前對其放電都是有好處的。

交流耐壓測試的優(yōu)點(diǎn)在于 , 它可以檢測所有的電壓極性，這更接近與實(shí)際的實(shí)用情況。另外，由于交流電壓不會對電容充電，因此大多數(shù)情況下，無需逐漸升壓，直接輸出相應(yīng)的電壓就可以得到穩(wěn)定的電流值。并且，交流測試完成后，無需進(jìn)行樣品放電。

交流耐壓測試的不足在于，如果測試中的線路中有大的 Y 電容，在某些情況下，交流測試將會誤判。大部分安全標(biāo)準(zhǔn)允許使用者在測試前不連接 Y 電容，或者改為使用直流測試。直流耐壓測試在加高電壓于 Y 電容時，不會誤判，因?yàn)榇藭r電容不會允許任何電流通過。

交流耐壓試驗(yàn)是鑒定電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度有效和直接的方法。電力設(shè)備在運(yùn)行中，絕緣長期受到電場、溫度、和機(jī)械振動的作用會逐漸發(fā)生劣化其中包括整體劣化，形成缺陷。例如由于局部地方電場比較集中或者局部絕緣比較脆弱就存在局部的缺陷。各種預(yù)防性試驗(yàn)方法，各有其長，均能分別發(fā)現(xiàn)一些缺陷，反映出絕緣的狀況，但其他試驗(yàn)方法的試驗(yàn)電壓往往都低于電力設(shè)備的工作電壓，作為安全運(yùn)行的保證還不夠有力。直流耐壓試驗(yàn)雖然試驗(yàn)電壓比較高，能發(fā)現(xiàn)一些絕緣的弱點(diǎn)，但是由于電力設(shè)備的絕緣大多數(shù)都是組合電介質(zhì)，在直流電壓的作用下，其電壓是按電阻分布的，所以交流電力設(shè)備在交流電場下的弱點(diǎn)使用直流作試驗(yàn)就不一定能夠發(fā)現(xiàn)。交流耐壓試驗(yàn)符合電力設(shè)備在運(yùn)行中所承受的電氣狀況，同時交流耐壓試驗(yàn)一般比運(yùn)行電壓高，因此通過試驗(yàn)后，設(shè)備有較大的安全裕度，所以這種試驗(yàn)已經(jīng)成為保證安全運(yùn)行的一個重要手段。

但是由于交流耐壓試驗(yàn)所采用的試驗(yàn)電壓比運(yùn)行電壓高得多，過高的電壓會使絕緣介質(zhì)損失增大、發(fā)熱、放電，會加速絕緣缺陷的發(fā)現(xiàn)，因此，從某種意義上講，交流耐壓試驗(yàn)是一種破壞性試驗(yàn)。在進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)前，必須先進(jìn)行各項(xiàng)非破壞性試驗(yàn)，如測量絕緣電阻、吸收比、介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ、直流泄漏電流等，對各項(xiàng)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行綜合分析，以決定該設(shè)備是否受潮或含有缺陷。若發(fā)現(xiàn)己存在問題，需預(yù)先進(jìn)行處理，待缺陷消除后，方可進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)，以免在交流耐壓試驗(yàn)過程中，發(fā)生絕緣擊穿，擴(kuò)大絕緣缺陷，延長檢修時間，增加檢修工作量。